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Rasterkraftmikroskop "Park AFM XE-70"

  • Rastersondenverfahren mit Cantilevern
  • Kontakt- oder Nicht-Kontakt-Modus
  • Topographie- und Phasen-Bilder
  • Kraft-Abstands-Kurven und laterale Kräfte
  • XY- und Z-Scanner getrennt
  • XY-Bereich 5 oder 50 µm
  • Z-Abstand 1,7 oder 12 µm
  • Probengröße bis zu 100 x 100 mm bei 20 mm Dicke und 500 g Gewicht