Rasterkraftmikroskop "Park AFM XE-70"
- Rastersondenverfahren mit Cantilevern
- Kontakt- oder Nicht-Kontakt-Modus
- Topographie- und Phasen-Bilder
- Kraft-Abstands-Kurven und laterale Kräfte
- XY- und Z-Scanner getrennt
- XY-Bereich 5 oder 50 µm
- Z-Abstand 1,7 oder 12 µm
- Probengröße bis zu 100 x 100 mm bei 20 mm Dicke und 500 g Gewicht